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代理leimac雷馬克近地天頂照明IDDB-KH系列

明亮的近地天地系列變得輕盈和新出現！通過使用半球形的內表面反射照射均勻的漫射光，可以獲得均勻的圖像，沒有陰影，抑制在直射光（如不均勻和光澤表面）中可能發生的光暈。具有曲面和臺階的工件可以捕獲為平面圖像。與IDDA-KH系列相比，重量減輕了MAX40%。它非常適合用于機器人視覺，由于重量輕，攜帶重量有限。
代理leimac雷馬克高亮度芯片 LED表面照明IHMA

從 IHM 進一步演變的高亮度透射照明芯片式透射照明，價格低，輸出大，重量輕。型號陣容包括 5 種尺寸，從小到大，方形近似形狀，以及 4 種尺寸的矩形形狀，共 9 種尺寸。發光顏色為白色、紅色和藍色。
代理leimac雷馬克方形邊緣照明IFLB 系列

薄、節能的均勻表面發光照明表面照明厚度為 7.2 至 8.2 mm。能夠在寬度方向上*大限度地取得發光區域，即使在設備等較窄的區域，也可以確保較寬的發光區域。它可用于各種外部檢查作為背光照明。如果 IFLB 系列中的亮度不足，考慮高亮度芯片 LED 表面照明 IHMA 系列和 IDHM 系列。
代理leimac雷馬克近地天平環照明IHRB 系列

明亮的近地天地系列變得輕盈和新出現！ NEO 環照明，在平面上安裝電源 LED。由于其方向性廣泛，可以照亮比傳統產品更寬的區域，因此非常適合大型工件檢測。與 IHRA 系列相比，重量減輕了 MAX20%。它非常適合用于機器人視覺，由于重量輕，攜帶重量有限。
代理leimac雷馬克全彩照明 IDDA KH-RGB系列

根據檢測目的自由混合發光顏色在一臺照明中復合安裝紅色、藍色和綠色 LED。紅、藍、綠三波長復合，成為可見光的全彩照明，可覆蓋非常寬的波長范圍。由于可以獨立調光每個波長，因此可以實現微妙的復合照明顏色。
代理leimac雷馬克全彩照明IMAR-RGB系列

根據檢測目的自由混合發光顏色在一臺照明中復合安裝紅色、藍色和綠色 LED。紅、藍、綠三波長復合，成為可見光的全彩照明，可覆蓋非常寬的波長范圍。由于可以獨立調光每個波長，因此可以實現微妙的復合照明顏色。
代理leimac雷馬克偽同軸圓頂照明IDUB 系列

模擬同軸圓頂輻照同軸投影照明與反射圓頂照明集成。圓頂形狀的多角度照明+同軸落射照明的正反射也使立體工件可均勻照射。圓頂照明和同軸投影照明允許單獨的調光。
leimac雷馬克窄角配光偽同軸落射照明IFVB

模擬同軸投影照明，實現高照度、高均勻性、緊湊的外殼半鏡可以照射到與相機軸相同的軸上。與 IFVA 系列相比，半鏡的改進大大提高了分辨率。由于可以進行正反射檢查，因此對表面細劃痕的檢查、打印和字符檢查有效。可用于各種應用，如電路板圖案檢查和連接器引腳間距測量。
代理leimac雷馬克同軸落射照明IFVA-ST 系列

直模擬同軸落射照明，實現高光、高均勻度和緊湊的外殼使用半透半反鏡，可以在垂直于攝像機軸的軸上進行照射和成像。與 IFVA 相比，在高度方向上的空間更少，從而節省空間。由于可以進行正反射檢查，因此對表面細劃痕的檢查、打印和字符檢查有效。可用于各種應用，如電路板圖案檢查和連接器引腳間距測量。
代理日本leimac雷馬克照明設備IDBC-LSR 系列

實現驚人的亮度線傳感器攝像機照明，在自然空氣冷卻下提供業界**的光量。提供兩種類型：高亮度類型（IDBC-LSR 系列）和高均勻類型（IDBC-LSR-S 系列：90 萬 lx），可廣泛漫射光。注）所發布的照度為參考值，不保證產品。尺寸為高亮度型/高均勻型，以100mm為單位，系列尺寸可達1，500mm
leimac雷馬克B'C 環照明IHR-LE90L-AR

B'C 線照明 IDBA-LE 系列的環形照明，適用于各種應用，如大型工件的打印檢測。與 B'C 線照明一樣，我們提供兩種配光特性，以滿足您的應用需求。由于其設計具有抗振動和抗沖擊性，因此可以安裝在機器人臂等移動部件上。
日本leimac雷馬克IFR-K7420_HV 無陰影環照明

均勻照射光澤和不均勻工件使用導光板的間接光照明。由于 LED 元件不能直接在發光表面上看到，因此可以均勻地照射有光澤和不規則的工件。
日本leimac雷馬克無影環照明IFR-K150_HV

均勻照射光澤和不均勻工件使用導光板的間接光照明。由于 LED 元件不能直接在發光表面上看到，因此可以均勻地照射有光澤和不規則的工件。
日本leimac雷馬克超反射紫外照明IHV-20AUV-365

比可見光更清晰的檢測非常適合在可見光下進行精細劃痕測試，使用熒光粉激發檢查膠粘劑的涂層狀態，以及檢查灰塵和其他異物。波長包括365nm、375nm、405nm等多個波長。除了此列表外，還提供波長。也可以生產與可見光形狀相同的輻照。 UV-405NR 的峰值波長為 405nm，即使在可見光攝像機中也具有靈敏度，因此無需提供昂貴的紫外相機和鏡頭。
日本leimac雷馬克偽同軸落射照明IFV-C40UV-405NR

比可見光更清晰的檢測非常適合在可見光下進行精細劃痕測試，使用熒光粉激發檢查膠粘劑的涂層狀態，以及檢查灰塵和其他異物。波長包括365nm、375nm、405nm等多個波長。除了此列表外，還提供波長。也可以生產與可見光形狀相同的輻照。 UV-405NR 的峰值波長為 405nm，即使在可見光攝像機中也具有靈敏度，因此無需提供昂貴的紫外相機和鏡頭。
日本leimac雷馬克直接條形照明IDBA-C50/15AUV-375

比可見光更清晰的檢測非常適合在可見光下進行精細劃痕測試，使用熒光粉激發檢查膠粘劑的涂層狀態，以及檢查灰塵和其他異物。波長包括365nm、375nm、405nm等多個波長。除了此列表外，還提供波長。也可以生產與可見光形狀相同的輻照。 UV-405NR 的峰值波長為 405nm，即使在可見光攝像機中也具有靈敏度，因此無需提供昂貴的紫外相機和鏡頭。

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